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      低對比度檢測試驗模體

      描述:低對比度檢測模體,技術參數(shù):1、尺寸:265x265x10mm
      2、材質:PMMA
      4、操作程序:
      1、放置在探測器上面,應用合適條件進行曝光。
      2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個方格組成的矩陣,每個方格中前三行僅有1
      個檢查點(成像點),其他行有2個測點,1個在方格中央,另1個隨機分布在1個角落中,
      共計405個地對比度。

      • 01/

        產(chǎn)品型號:定制
      • 02/

        廠商性質:生產(chǎn)廠家
      • 03/

        更新時間:2024-03-25
      • 04/

        訪問量:546
      詳細內(nèi)容/ Product Details
      品牌京南雙玉產(chǎn)地國產(chǎn)

            低對比度檢測模體

      產(chǎn)品編號:SY20240322-8低對比度檢測模體

      產(chǎn)品廠家:廊坊玉雙儀器設備有限公司

      產(chǎn)品介紹:技術參數(shù):

      1、尺寸:265x265x10mm

      2、材質:PMMA

      4、操作程序:

      1、放置在探測器上面,應用合適條件進行曝光。

      2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個方格組成的矩陣,每個方格中前三行僅有1

      個檢查點(成像點),其他行有2個測點,1個在方格中央,另1個隨機分布在1個角落中,

      共計405個地對比度。

      3、檢查點的光密度比之均勻背景光密度高,檢測點深度和直徑早對數(shù)變化,直徑范圍:0.3-8.0mm,深度范圍:0.3-8.0mm(精度:0.01mm)

      5、模體上所以標記不透明,X射線成像可見。

      6、在觀片燈箱上觀察模體影像,記錄影像中可探測到的最小細節(jié)。

      5、檢測技術依據(jù):

      《計算機X射線攝影(CR)質最控制檢測規(guī)范》(WS520-2017)《數(shù)字X射線攝影(DR)系統(tǒng)控制質最檢測規(guī)范》(WS521-2017)

      產(chǎn)品編碼:SY20240322-8低對比度檢測模體


       


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